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场发射扫描电子显微镜

JSM-IT810场发射扫描电子显微镜 JSM-IT810系列FE-SEM结合多功能性和高空间分辨率，实现了自动化操作。内置无需编码的成像和EDS分析自动化功能，使工作流程更加流畅高效。此外...
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日本电子IT210 扫描电镜

JSM-IT210 扫描电镜是日本电子制造的最小巧的落地型扫描电子显微镜。5轴马达驱动使得操作更安心和快速；而且因为装有“Simple SEM”，只需选好微区就能自动观察和分析。JSM-IT210 扫...
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日本电子SEM

JSM-IT510 InTouchScope™ 日本电子SEM不仅是开展科研工作所不可少的工具，对于需要品控的制造工厂也是*。在这些场景中，用户需要重复执行相同的观察操作，因此快速完成这...
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扫描电镜价格

JSM-IT210 InTouchScope™ 扫描电镜价格不仅是开展科研工作所不可少的工具，对于需要品控的制造工厂也是*。在这些场景中，用户需要重复执行相同的观察操作，因此快速完成这些...
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JSX-1000S 能量色散型X射线荧光分析仪

JSX-1000S 能量色散型X射线荧光分析仪采用触控屏操作、提供更加简便迅速的元素分析。具备常规定性、定量分析（FP法?检量线法）、RoHS元素筛选功能等。　利用丰富的硬件/软件选配件、还能进行更...
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双束加工观察系统

随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化，形貌观察、元素分析和晶体分析等的评估技术也对分辨率和精度有了更高的要求。为了满足这些需求，JEOL推出新一代双束加工观察系统JIB-4700F。
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JIB-4000PLUS 聚焦离子束加工观察系统

JIB-4000PLUS 聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速的镓离子束经聚焦照射样品后，能对样品表面进行SIM观察、研磨、及碳和钨等沉积。还可以为TEM制备薄膜...
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JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪

JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化集成FE-EPMA。
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CP截面样品制备装置

IB-19520CCP截面样品制备装置在加工过程中利用液氮冷却，能减轻离子束对样品造成的热损伤。冷却持续时间长、液氮消耗少的构造设计。在装有液氮的情况下，也能将样品快速冷却、恢复到室温，并且可以拆卸。...
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IB-19530CP截面样品制备装置

IB-19530CP截面样品制备装置为了满足市场多样化的需求，IB-19530CP截面抛光仪采用多用途样品台，通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。
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离子切片仪

EM-09100IS 离子切片仪用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度（0°到6&...
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日本电子ROHSX射线荧光分析仪金属成分分析

日本电子ROHSX射线荧光分析仪金属成分分析(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了高的能量分辨率。 ...
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JEOL 日本电子扫描电镜钨灯丝MA113008

JEOL日本电子钨灯丝MA113008 可用于多种日本电子灯丝耗材更换
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场发射扫描电子显微镜

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热场发射扫描电子显微镜

JSM-IT710HR 热场发射扫描电子显微镜清晰的可见性促进新发现！目前，除了纳米级的分辨率和分析性能外，数据采集的处理能力也被认为是重要的。JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能轻...
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日本电子IT210 扫描电镜

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ROHS金属成分分析仪

ROHS金属成分分析仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了高的能量分辨率。和EDS一样可以并行检...
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关于星空官方网站入口星空官方网站主要是一家专门从事进口仪器设备销售公司。主要服务于华东，华中，华南地区形成了一个覆盖中国沿海地区，并延伸至内地的销售网络。我们服务项目包含仪器销售，维修，安装，仪器校准，保养等，是一加集进口，销售，安装，服务一体的进口仪器销售公司，公司秉承“技术至上，服务进取”的经营理念，坚持“客户第一”的原则为广大客户提供优质的服务。欢迎广大客户惠顾！星空官方网站主要合作品牌有：星空官方网站入口,安捷伦AGILENT,岛津SHIMADZU,日本电子JEOL,牛津仪器Oxford,日本尼康NIKON等品牌产品。主要销售产品为各式液相色谱，气相色谱，光谱仪，质谱仪，光学显微镜，扫描电镜，X光检查机，x光荧光分析仪等相关仪器。星空官方网站入口客户群为电子行业，钢铁行业，矿产，生物，医疗，材料等各种领域。为客户提供优良的解决方案及优秀的服务，用自身技术协助解决用户的现实问题。欢迎广大客户来电指导，共同学习探讨。

2014年
成立时间
2200万
注册资金
365天
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2026
5-13

截面抛光仪工作原理及优势特点，低温可控无损抛光不损伤样品
在材料科学、电子制造及微观分析领域，样品截面的制备质量直接决定后续观测与分析的准确性。传统机械抛光依赖磨料与机械力，易导致样品表层变形、划痕、污染甚至结构损伤，尤其对柔性材料、多层复合材料、多孔材料及温度敏感样品，缺陷更为突出。截面抛光仪作为先进的无损制样设备，依托离子束加工与低温控温技术，实现了高精度、无损伤的截面制备，为微观形貌与结构分析提供理想样品支撑。截面抛光仪的核心工作原理基于高能离子束溅射侵蚀与低温真空环境控制两大核心机制，全程无机械接触，从根源规避机械损伤。设备...
2026
1-30

日本电子发布混合探测器：二次电子+阴极荧光，SEM成像分析一步提效
在材料检测与研发中，科研人员常常面临一个抉择：用扫描电镜（SEM）看清样品形貌后，若想进一步分析其成分、缺陷或发光特性，往往需要切换模式、更换探测器，甚至动用另一台专用设备。这个过程耗时耗力，还可能丢失关键的原位关联信息。日本电子（JEOL）发布的应用文档，展示了一款低真空混合二次电子探测器（LHSED）如何为解决这一痛点提供新思路。它并非要取代任何专用分析设备，而是通过硬件创新，让一台常规的扫描电镜在完成本职高分辨率形貌成像的同时，近期我司新推出升级了额外具备了快速获取材料...
2025
10-24

从结构到应用：一文读懂钨灯丝扫描电子显微镜
在现代科学研究和工业检测中，扫描电子显微镜（SEM）已经成为一种重要的工具。而钨灯丝扫描电子显微镜（W-SEM）作为其中一种常见类型，以其独特的结构和广泛的应用，为微观世界的探索提供了*的支持。本文将带你深入了解它的结构原理及其在各个领域的应用。一、结构原理：微观世界的“探照灯”钨灯丝扫描电子显微镜的核心在于其电子发射源——钨灯丝。钨因其高熔点和良好的电子发射性能，被制成细丝并置于高真空腔体内。当电流通过钨灯丝时，它会加热到白炽状态，释放出电子。这些电子在高电压的作用下被加速...
2025
9-22

扫描电子显微镜应用指南
扫描电子显微镜作为现代科学研究中的工具以其高分辨率、多种信号检测和广泛的放大范围等特性，广泛应用于材料科学、生物学、医学、地质学等多个领域。本文将为您提供一份它的应用指南，帮助您更好地利用这一*的微观分析工具。一、样品制备：确保高质量成像的关键（一）样品选择与处理在使用扫描电子显微镜之前，样品的选择和处理至关重要。样品应具有代表性，能够反映研究对象的特性。对于固体样品，通常需要进行切割、研磨和抛光，以获得平整的表面。对于粉末样品，可以直接将其压制成薄片或涂覆在导电基底上。生物...
2025
7-14

ROHS金属成分分析仪在实验室中的操作指南
ROHS金属成分分析仪是一种用于检测金属材料中特定元素含量的先进设备，广泛应用于电子、汽车、玩具等行业，以确保产品符合环保标准。在实验室中，正确操作ROHS金属成分仪对于获得准确可靠的检测结果至关重要。以下是ROHS金属成分分析仪在实验室中的操作步骤和注意事项。一、准备工作（一）设备检查在开始操作之前，首先需要对ROHS金属成分仪进行全面检查。确保设备处于良好的工作状态，包括检查电源连接是否正常、设备表面是否清洁、样品仓是否干净等。这些检查可以避免因设备故障导致的测量误差。（...
2025
6-12

低温冷冻离子切片仪的创新点
低温冷冻离子切片仪是一种用于制备透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）样品的先进设备，尤其适用于对热敏感的样品。近年来，该技术在多个方面取得了显著的创新和改进，以下是其主要创新点：1.液氮制冷技术传统的离子切片仪在制备样品时，离子束的高能量会对样品造成热损伤，尤其是对生物样品和软材料。低温冷冻离子切片仪通过液氮制冷技术，将样品冷却至ji低温度（如-120℃），显著减少了离子束对样品的热损伤。这种冷却系统不仅能够有效保护样品的结构完整性，还能延长冷却保持时间，最长可...

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技术文章

一文读懂超高压透射电镜：从原理选型到运维校准干货指南

在材料、地质、催化等诸多研究领域，微观尺度的结构观测是解析物质特性的重要途径。光学显微镜受光源波长限制，难以捕捉纳米尺度的内部信息，超高压透射电镜依靠高能电子束作为探测载体，能够观测样品内部晶体结构、缺陷分布与相组成，为各类基础研究与应用开发提供直观的微观证据。作为结构精密、运行条件严苛的大型仪器，想要稳定发挥设备能力，需要清晰理解基础原理、做好前期选型规划，并且落实常态化运维与规范校准工作。超高压透射电镜依托电子的波粒二象性开展工作。仪器内部电子枪释放电子，经过高压加速形成...

2026-8-19
超高压透射电镜日常维护保养与电子枪更换及高真空系统操作规范全面汇总

超高压透射电镜是材料微观结构表征的核心设备，设备运行的稳定性与使用寿命，直接依托标准化的日常维保、规范的部件更换流程和严谨的真空系统操作。为保障设备长期稳定运行，规避操作失误引发的设备损耗、成像异常等问题，现将设备日常维护保养、电子枪更换流程、高真空系统操作规范进行系统性梳理，为设备运维工作提供标准化参考依据。超高压透射电镜的日常维护保养是设备稳定运行的基础，贯穿设备启停、运行、闲置的全流程，以常态化检查、清洁、防护为核心。日常开机阶段，操作人员需提前检查设备供电、冷却系统、...

2026-8-17
检测数据偏差大、结果不稳定？RoHS分析仪常见问题解决方案

RoHS分析仪（通常指X射线荧光光谱仪）在检测中若频繁出现数据偏差大或结果不稳定，往往与样品制备、仪器状态、环境干扰三大因素相关。以下从这几方面提供针对性解决方案。一、样品制备一致性样品表面状态是影响XRF检测结果的首要因素。样品应具有平整、均匀的检测面，若表面存在镀层、氧化层、油污或凹凸不平，X射线的激发和荧光收集效率会显著变化。建议对金属样品进行打磨或车削处理，去除表面涂层或污染物后再检测；对塑料、粉末等轻基体样品，需确保压实密度和厚度满足无限厚条件，防止二次靶效应带来的...

2026-8-13
超高压透射电镜图像分辨率不达标怎么办？球差校正与真空系统故障排查总结

超高压透射电镜是材料微观结构表征的核心设备，其成像分辨率直接决定微观形貌、晶格结构等实验数据的准确性。在长期设备运行与实验检测过程中，图像分辨率下降、成像模糊、细节缺失等问题频繁出现，不仅影响常规实验进度，还会导致检测数据偏差。引发分辨率不达标的核心诱因，主要集中于球差校正系统偏移与真空系统运行异常，同时伴随光路调试不当、设备环境波动、样品状态异常等辅助因素。本文结合日常设备运维经验，针对两类核心故障的排查流程、调试方法及优化策略进行梳理总结，为设备稳定运行与高质量成像提供技...

2026-8-11
超高压透射电镜与常规透射电镜有何区别？

透射电镜是材料科学、物理研究以及微观分析领域重要的观测设备，依靠电子束穿透样品获取内部微观结构信息，帮助研究人员观察材料晶粒形态、内部缺陷、界面组织等细节。按照电子束加速条件的不同，可以分为超高压透射电镜与常规透射电镜两大类。两类设备虽同属透射电镜体系，基础成像逻辑保持一致，但在设备架构、样品适配、观测能力以及实际应用方向上存在不少差异。理清二者之间的不同，能够为科研平台设备选型、实验方案制定提供参考依据。从设备整体架构来看，二者最主要的不同体现在电子发射与加速系统部分。常规...

2026-8-7
样品制备直接影响成像！场发射扫描电镜制样技巧汇总

场发射扫描电镜作为材料表征的重要手段，其成像质量在很大程度上取决于样品制备的好坏。同样一台设备，制样方法得当，就能获得清晰、真实的微观形貌；制样过程稍有疏忽，就可能出现假象、荷电、污染等问题，导致观察结果失真。以下从多个环节梳理实用的制样技巧，帮助操作者提升成像效果。一、样品预处理：从源头减少干扰样品进入电镜之前的预处理环节，往往容易被忽视，却对最终成像影响深远。首先是样品尺寸的把控。不同型号的样品台对样品高度和直径有不同要求，操作者需要提前确认设备允许的最大尺寸，避免样品过...

2026-7-22
场发射扫描电镜真空系统维护：日常保养与故障排查方法

场发射扫描电镜的成像质量与分析精度，在很大程度上依赖于真空系统的稳定运行。电子束需要在高真空环境中产生和传输，一旦真空度下降，不仅会影响图像分辨率，还可能导致灯丝寿命缩短、样品污染等问题。因此，做好真空系统的日常保养与故障排查，是保障设备正常运行的基础工作。一、日常保养的基本内容(一)建立定期检查机制真空系统的维护应从日常巡检做起。操作人员每次开机前，应留意真空计的读数变化趋势，与历史正常数据进行比对。如果发现抽真空时间明显变长，或最终真空度与以往存在差异，应及时记录并进一步...

2026-7-20
场发射扫描电镜定期校准及维护规范

场发射扫描电镜是材料科学、生命科学、半导体、冶金等领域非常重要的精密分析仪器，能够对样品的表面形貌进行高倍率、高分辨率的观察和分析。这类仪器结构精密、价格昂贵，对使用环境和维护保养的要求也比较高。定期做好校准和维护工作，不仅能保证仪器的性能和测试结果的准确性，还能延长仪器的使用寿命，减少故障的发生。本文就来详细介绍场发射扫描电镜的定期校准及维护规范。一、场发射扫描电镜概述在介绍校准和维护之前，先简单了解一下场发射扫描电镜的基本情况。(一)基本工作原理扫描电镜的基本工作原理，是...

2026-7-14